胡苹,尹岚,陈铀,李树玮.CuO薄膜的阻变存储特性[J].南华大学学报(自然科学版),2014,28(3):76~81.[HU Ping,YIN Lan,CHEN You,LI Shu-wei.Resistive Switching Characteristics of Copper Oxide Thin Films[J].Journal of University of South China(Science and Technology),2014,28(3):76~81.]
CuO薄膜的阻变存储特性
Resistive Switching Characteristics of Copper Oxide Thin Films
投稿时间:2014-03-30  
DOI:
中文关键词:  分子束外延  双极阻变开关  非易失性
英文关键词:molecular beam epitaxy  bipolar resistive switching  nonvolatile
基金项目:国家自然科学基金资助项目(11347203);湖南省教育厅基金资助项目(11C1073)
作者单位
胡苹 南华大学 数理学院,湖南 衡阳 421001 
尹岚 南华大学 数理学院,湖南 衡阳 421001 
陈铀 南华大学 数理学院,湖南 衡阳 421001 
李树玮 中山大学 物理科学与工程技术学院,广东 广州 510275 
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中文摘要:
      利用等离子体辅助的分子束外延设备在SrTiO3掺Nb(Nb:STO)的衬底上制备了双层的Cu2O/CuO薄膜,经过测量其电流电压特性,发现Pt/Cu2O/CuO/Nb:STO器件的阻变存储特性非常显著,而且可重复程度高,适合多次数据写入与擦除,有望应用于信息存储领域.
英文摘要:
      In this letter,bilayered Cu2O/CuO thin films were grown on Nb doped SrTiO3 (Nb:STO) substrates by plasma assisted molecular beam epitaxy.The current-voltage characteristics of Pt/Cu2O/CuO/Nb:STO devices show reproducible and pronounced current-voltage hysteresis which was induced by the CuO/Nb:STO junctions.The device can be used as information storage for its reproducibility and nonvolatility.
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