| 管亮,龚学余,胡解生.塞曼效应实验中显微测微技术及测量误差分析[J].南华大学学报(自然科学版),2004,(2):103~104.[.Technology of Microscopy and Micrometer in the Experiment of the Effect of Zeeman and the Error Analysis[J].Journal of University of South China(Science and Technology),2004,(2):103~104.] |
| 塞曼效应实验中显微测微技术及测量误差分析 |
| Technology of Microscopy and Micrometer in the Experiment of the Effect of Zeeman and the Error Analysis |
| 修订日期：2004-01-12 |
| DOI： |
| 中文关键词: 塞曼效应,测微,误差分析 |
| 英文关键词:the effect of Zeeman,micrometry,error analysis, |
| 基金项目: |
| 管亮 龚学余 胡解生 |
| 南华大学数理学院，南华大学核科学技术学院，南华大学数理学院 湖南衡阳421001，湖南衡阳421001，湖南衡阳421001 |
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| 中文摘要: |
| 介绍显微测微技术的测量原理及其在塞曼效应实验中的应用,分析了测微过程中产生的误差. |
| 英文摘要: |
| In this paper,the principle of microscopy and micrometer is described,and used in the experiment of the effect of Zeeman.The systematic error of the instrument is analyzed. |
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